การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์ / ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ.

แสดงรายละเอียดบรรณานุกรม

Brief Record : Get Marc (ISO 2709) : E-mail record

LEADER : 00000nam 2200000uu 4500
008 081216s2535th m 000 0 tha d0 tha d
040 ^aneu
082 0 ^a621.381^bช647ก 2535
100 0 ^aชูชัย ธนสารตั้งเจริญ
245 00 ^aการทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์ /^cชูชัย ธนสารตั้งเจริญ.
260 ^aกรุงเทพฯ :^bฟิสิกส์เซ็นเตอร์,^c2535.
300 ^a208 หน้า :^bภาพประกอบ ;^c26 ซม.
650 7 ^aวงจรอิเล็กทรอนิกส์.
852 ^aคณะวิศวกรรมศาสตร์ สาขาอิเล็กทรอนิกส์.
999 ^a ระวิวรรณ.

คุณยังไม่ได้ล็อกอิน คุณสามารถมีกิจกรรมร่วมกับเว็บไซต์ได้ แต่ต้องล็อกอินก่อน ::

รายการสื่อสารสนเทศ

ลำดับที่	ประเภท	เลขเรียก/บาร์โค้ด	สถานที่	สถานะ
1.	หนังสือ	621.381 ช647ก 2535 Barcode: B0023307	ห้องสมุดสาขาหลัก ►หนังสือทั่วไป	บนชั้น
2.	หนังสือ	621.381 ช647ก 2535 ฉ.2 Barcode: B0023308	ห้องสมุดสาขาหลัก ►หนังสือทั่วไป	บนชั้น
3.	หนังสือ	621.381 ช647ก 2535 ฉ.3 Barcode: B0023309	ห้องสมุดสาขาหลัก ►หนังสือทั่วไป	บนชั้น
4.	หนังสือ	621.381 ช647ก 2535 ฉ.4 Barcode: B0024332	ห้องสมุดสาขาหลัก ►หนังสือทั่วไป	บนชั้น

รายการใกล้เคียง
ผู้แต่ง [ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ]

หัวเรื่อง [วงจรอิเล็กทรอนิกส์.]

BibComment

ยังไม่เคยถูกคอมเมนท์

คอมเมนท์ทรัพยากรรายการนี้

Bib

5865