การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์ / ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ.

ผู้แต่ง	ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ
ชื่อเรื่อง	การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์ / ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ.
พิมพลักษณ์	กรุงเทพฯ : ฟิสิกส์เซ็นเตอร์, 2535.
เลขเรียก	621.381 ช647ก 2535
รูปเล่ม	208 หน้า : ภาพประกอบ ; 26 ซม.
หัวเรื่อง	วงจรอิเล็กทรอนิกส์.

คุณยังไม่ได้ล็อกอิน คุณสามารถมีกิจกรรมร่วมกับเว็บไซต์ได้ แต่ต้องล็อกอินก่อน ::

รายการสื่อสารสนเทศ

ลำดับที่	ประเภท	เลขเรียก/บาร์โค้ด	สถานที่	สถานะ
1.	หนังสือ	621.381 ช647ก 2535 Barcode: B0023307	ห้องสมุดสาขาหลัก ►หนังสือทั่วไป	บนชั้น
2.	หนังสือ	621.381 ช647ก 2535 ฉ.2 Barcode: B0023308	ห้องสมุดสาขาหลัก ►หนังสือทั่วไป	บนชั้น
3.	หนังสือ	621.381 ช647ก 2535 ฉ.3 Barcode: B0023309	ห้องสมุดสาขาหลัก ►หนังสือทั่วไป	บนชั้น
4.	หนังสือ	621.381 ช647ก 2535 ฉ.4 Barcode: B0024332	ห้องสมุดสาขาหลัก ►หนังสือทั่วไป	บนชั้น

รายการใกล้เคียง
ผู้แต่ง [ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ]

หัวเรื่อง [วงจรอิเล็กทรอนิกส์.]

BibComment

ยังไม่เคยถูกคอมเมนท์

คอมเมนท์ทรัพยากรรายการนี้

Bib

5865